帕纳科X射线荧光光谱

    X射线荧光 (XRF)光谱是一种非破坏的分析技术，用于定性和定量分析固体，粉末和液体样品里的元素。

    XRF光谱仪测量受到X射线辐射的样品发出的每一个波长的信号。

 

    波长色散(WDXRF) 是通过衍射技术，利用分光晶体来实现分光。根据Bragg定律晶体的晶间距选择出正确的波长。

    能量色散XRF谱仪(EDXRF)不需要晶体。

    WDXRF系统的应用灵活广泛，对每一个元素的光学测量条件程序化，对轻元素的测量性能表现优异，灵敏度高，检出限低。

    EDXRF系统包括专门的电子和软件模块，所有的辐射都被探测器很好的分析。虽然该系统精度相对较低,但为应用提供了一种低成本的选择。